TIÊU CHUẨN QUỐC GIA
TCVN 6697-5 : 2009
IEC 60268-5 : 2007
THIẾT BỊ HỆ THỐNG ÂM THANH – PHẦN 5: LOA
Sound system equipment – Part 5: Loudspeakers
Lời nói đầu
TCVN 6697-5 : 2009 thay thế TCVN 6697-5: 2000;
TCVN 6697-5 : 2009 hoàn toàn tương đương với IEC 60268-5: 2007;
TCVN 6697-5 : 2009 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn TCVN/TC/E3 Thiết bị điện tử dân dụng biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.
THIẾT BỊ HỆ THỐNG ÂM THANH – PHẦN 5: LOA
Sound system equipment – Part 5: Loudspeakers
- Phạm vi áp dụng
Tiêu chuẩn này áp dụng cho các loa của hệ thống âm thanh được coi là các phần tử hoàn toàn thụ động. Tiêu chuẩn này không áp dụng cho các loa có lắp sẵn khuếch đại.
CHÚ THÍCH 1: Thuật ngữ “loa” dùng trong tiêu chuẩn này liên quan tới cả các bộ kích của loa và cũng liên quan đến hệ thống loa có một hay nhiều bộ kích được cung cấp cùng với ván loa, hộp loa hoặc ống dẫn và các phụ kiện kèm theo liên quan như các bộ lọc chéo lắp sẵn, biến áp và các phần tử thụ động khác.
Tiêu chuẩn này nhằm đưa ra các đặc tính quy định và các phương pháp đo thích hợp đối với các loa bằng cách sử dụng tín hiệu hình sin hoặc tín hiệu tạp hoặc tín hiệu xung quy định.
CHÚ THÍCH 2: Các phương pháp đo nêu trong tiêu chuẩn này được lựa chọn để thích hợp nhất với các đặc tính đó.
CHÚ THÍCH 3: Nếu sử dụng các phương pháp đo khác nhưng cũng đạt được các kết quả tương đương thì phải mô tả chi tiết các phương pháp đó cùng với kết quả.
CHÚ THÍCH 4: Các hạng mục sau đây đang được xem xét:
– loa có lắp sẵn khuếch đại;
– các phép đo trong điều kiện không phải là trường tự do, trường tự do nửa không gian và trường tán xạ;
– các phương pháp đo với tín hiệu không phải là hình sin hoặc tạp hoặc xung.
- Tài liệu viện dẫn
Các tài liệu viện dẫn dưới đây là cần thiết để áp dụng tiêu chuẩn này. Các tài liệu có ghi năm công bố thì áp dụng bản được nêu, các tài liệu không ghi năm công bố thì áp dụng bản mới nhất (kể cả các sửa đổi).
IEC 60050(151), International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Part 151: Electrical and magnetic devices (Từ vựng kỹ thuật điện – Phần 151: Thiết bị điện và Thiết bị từ)
IEC 60263, Scales and sizes for plotting frequency characteristics and polar diagrams (Thang đo và kích thước để vẽ đồ thị đặc tính tần số radio và sơ đồ điện cực)
TCVN 6697-1 : 2000 (IEC 60268 -1 : 1985, amendment 1: 1992 và amendment 2: 1996), Thiết bị hệ thống âm thanh – Phần 1: Quy định chung.
IEC 60268-2, Sound system equipment – Part 2: Explanation of general terms and calculation methods (Thiết bị hệ thống âm thanh – Phần 2: Giải thích các thuật ngữ chung và phương pháp tính toán)
IEC 60268-3, Sound system equipment – Part 3: Amplifiers (Thiết bị hệ thống âm thanh – Phần 3: Bộ khuếch đại)
IEC 60268-11, Sound system equipment – Part 11: Application of connectors for the interconnection of sound system components (Thiết bị hệ thống âm thanh – Phần 11: Bộ nối dùng để liên kết các bộ phận của hệ thống âm thanh)
IEC 60268-12, Sound system equipment – Part 12: Application of connectors for broadcast and similar use (Thiết bị hệ thống âm thanh – Phần 12: Bộ nối dùng cho truyền thông quảng bá và mục đích sử dụng tương tự)
IEC 60268-14, Sound system equipment – Part 14: Circular and elliptical loudspeakers; outer frame diameters and mounting dimensions (Thiết bị hệ thống âm thanh – Phần 14: Loa elíp và loa tròn; đường kính vành ngoài và kích thước lắp đặt)
IEC 60651, Sound level meters (Máy đo mức âm thanh)
IEC 61260, Electroacoustics – Octave-band and fractional-octave-band filters (Điện thanh học – bộ lọc dải octave phân đoạn và bộ lọc dải octave)
ISO 3741, Acoustics – Determination of sound power levels of noise sources using sound pressure – Precision methods for reverberation rooms (Âm học – Định nghĩa về các mức công suất âm thanh của các nguồn tạp sử dụng thanh áp – Các phương pháp xác định đối với phòng vang).
ISO 3744, Acoustics – Determination of sound power levels of noise sources using sound pressure – Engineering methods in an essentially free field over a reflecting plane (Âm học – Định nghĩa về các mức công suất âm thanh của các nguồn tạp sử dụng thanh áp – Phương pháp thiết kế trong lĩnh vực trường tự do cơ bản trên mặt phản xạ)
ISO 3745, Acoustics – Determination of sound power levels of noise sources – Precision methods for anechoic and semi-anechoic rooms (Âm học – Định nghĩa về các mức công suất âm thanh của các nguồn tạp – Các phương pháp xác định cho phòng không vang và phòng bán vang)
- Điều kiện đo
3.1. Điều kiện chung
Tiêu chuẩn này sử dụng cùng với với TCVN 6697-1 (IEC 60268-1), IEC 60268-2 và ISO 3741.
3.2. Điều kiện đo
3.2.1. Điều kiện chung
Để thuận tiện cho việc quy định cách bố trí loa cần đo, các điều kiện đo bình thường được xác định trong tiêu chuẩn này. Để đạt được những điều kiện đúng cho phép đo, một số giá trị (thường được gọi là “điều kiện danh định”) phải theo quy định kỹ thuật của nhà chế tạo. Bản thân các điều kiện danh định đó không phải là để đem đo nhưng để làm cơ sở cho phép đo các đặc tính khác.
Các giá trị sau đây thuộc loại này và phải được nhà chế tạo nêu ra:
– trở kháng danh định;
– công suất hoặc điện áp hình sin danh định;
– công suất hoặc điện áp tạp danh định;
– dải tần danh định;
– mặt phẳng chuẩn;
– điểm chuẩn;
– trục chuẩn.
CHÚ THÍCH: Giải thích đầy đủ của thuật ngữ “danh định” được cho trong IEC 60268-2. Xem thêm 151-04-03 trong IEC 60050(151).
3.2.2. Điều kiện đo bình thường
Loa được hiểu là làm việc trong những điều kiện đo bình thường khi tất cả các điều kiện sau đây đã được thực hiện:
- a) loa cần đo được lắp đặt theo Điều 10;
- b) môi trường âm được quy định và được lựa chọn từ nội dung cho trong Điều 5;
- c) loa được bố trí tương quan với micrô đo và các vách ngăn, theo Điều 7;
- d) loa được cung cấp tín hiệu thử nghiệm quy định (theo Điều 4) có điện áp quy định U và trong dải tần danh định (xem 19.1). Nếu có yêu cầu thì công suất vào P có thể được tính toán theo công thức P = U2/R, trong đó R là trở kháng danh định (theo 16.1);
- e) nếu có sử dụng các bộ suy giảm thì phải đặt ở vị trí “bình thường” theo quy định của nhà chế tạo. Nếu chọn những tư thế khác, ví dụ chọn tư thế để đạt được đáp tuyến tần số bằng phẳng nhất hoặc độ suy giảm lớn nhất thì phải nói rõ các tư thế đó;
- f) thiết bị đo thích hợp để xác định đặc tính mong muốn được nối vào mạch đo (theo Điều 8).
- Tín hiệu thử nghiệm
4.1. Quy định chung
Các phép đo về âm phải được tiến hành ở một trong các điều kiện tín hiệu đo sau đây, nếu chọn điều kiện nào phải ghi rõ cùng với kết quả.
4.2. Tín hiệu hình sin
Tín hiệu thử nghiệm hình sin không được vượt quá điện áp hình sin danh định tại bất kỳ tần số nào (xem 17.4). Nếu không có quy định nào khác thì điện áp đặt lên đầu nối vào của loa cần thử nghiệm phải được giữ không đổi ở tất cả các tần số.
4.3. Tín hiệu tạp băng tần rộng
CHÚ THÍCH: Thuật ngữ này được giải thích trong IEC 60268-2.
Hệ số đỉnh của nguồn tạp nên dùng trong khoảng 3 và 4 để ngăn ngừa sự quá tải của của bộ khuếch đại.
Vôn mét đo giá trị r.m.s (giá trị hiệu dụng) sử dụng phải có hằng số thời gian ít nhất bằng hằng số “chậm” của máy đo mức âm thanh như nêu ra trong IEC 60651.
4.4. Tín hiệu tạp băng tần hẹp
CHÚ THÍCH: Thuật ngữ này được giải thích trong IEC 60268-2.
Đối với phép đo dùng tạp băng tần hẹp, phải sử dụng các bộ lọc có độ rộng băng tần gần như không đổi quy định trong IEC 61260 cùng với máy phát tạp hồng, độ rộng băng tần tương đối thường được dùng là 1/3 octave.
4.5. Tín hiệu xung
Phải có một xung hẹp có phổ công suất không đổi trên mỗi đơn vị độ rộng băng tần trên toàn bộ băng tần ở ít nhất là độ rộng băng tần thích hợp trong các phép đo này. Tín hiệu như vậy có năng lượng tương so với biên độ đỉnh của nó.
CHÚ THÍCH: Để giảm thiểu ảnh hưởng của tạp điện và tạp âm lên phép đo, biên độ đỉnh của xung phải càng cao càng tốt trong phạm vi khả năng của bộ khuếch đại và phù hợp với làm việc tuyến tính của loa.
- Môi trường âm
5.1. Yêu cầu chung
Các phép đo về âm phải được tiến hành ở một trong các điều kiện trường âm quy định trong 5.2 và 5.6, việc chọn điều kiện nào phải ghi rõ điều kiện đó cùng với kết quả.
5.2. Điều kiện trường tự do
Nếu các điều kiện về âm rất gần với các điều kiện của không gian trường tự do, thì phải sử dụng môi trường (ví dụ phòng câm), trong đó thanh áp giảm theo khoảng cách (r) theo quy luật 1/r tính từ điểm nguồn, có độ chính xác là ± 10 % trong vùng mà trường âm thanh choán chỗ giữa hệ thống loa và micrô trong quá trình thực hiện các phép đo. Điều kiện tối thiểu này phải được coi là đạt nếu yêu cầu này được đáp ứng dọc theo trục nối giữa micrô đo và điểm chuẩn trên loa.
Các điều kiện về trường tự do phải tồn tại trong toàn bộ dải tần của phép đo.
5.3. Các điều kiện về trường tự do nửa không gian
Các điều kiện về âm trong đó trường tự do tồn tại trong nửa không gian, điều kiện này được thỏa mãn nếu có mặt phẳng phản xạ có kích thước đủ lớn sao cho thanh áp nhận được từ điểm nguồn âm đặt trên bề mặt của mặt phẳng phản xạ này giảm theo cách quy định ở 5.2.
5.4. Các điều kiện về trường âm thanh khuếch tán
CHÚ THÍCH 1: Các điều kiện nói trên thông thường chỉ dùng cho phép đo tạp băng tần.
Nếu các điều kiện trường âm thanh khuếch tán để đo tạp giới hạn trong băng tần 1/3 octave như xác định và quy định trong ISO 3741 thì tần số giới hạn thấp hơn phải được xác định như quy định trong ISO 3741, Phụ lục A.
CHÚ THÍCH 2: Nếu trong ISO 3741 có quy định chi tiết về các dụng cụ đo thì cần hiểu rõ ràng rằng yêu cầu lấy trung bình không gian và lấy trung bình thời gian trong cách xác định công suất của loa. Điều này có thể đạt được như đã nêu trong tiêu chuẩn hoặc có thể theo cách thức khác là dùng kỹ thuật lấy trung bình không gian và kỹ thuật trung bình thời gian liên tục.
CHÚ THÍCH 3: Độ chính xác của phép đo tùy thuộc vào số lượng các yếu tố bao gồm thể tích phòng, thời gian vang của phòng, mức độ khuếch tán.
CHÚ THÍCH 4: Đối với phép đo ở tần số dưới 125 Hz thể tích phòng lớn hơn 200 m3 là điều mong muốn.
5.5. Các điều kiện về trường tự do mô phỏng
Nếu điều kiện về âm được sử dụng trong đó điều kiện trường tự do mô phỏng là tương đương với trường không gian tự do trong khoảng thời gian cần thiết cho một phép đo thì điều kiện này phải được sử dụng.
Các điều kiện này phải được đáp ứng trong một môi trường bất kỳ (ví dụ phòng rộng và không có vật cản) trong đó âm thanh do loa phát ra tương ứng với tín hiệu xung bị phản xạ bởi một mặt phẳng hay một vật bất kỳ trong môi trường đều không tới được micrô đo trước khi phép đo âm thanh theo đường trực tuyến tại micrô được thực hiện.
Bất cứ sự phản xạ nào như vậy phải được ngăn chặn không cho tới micrô khi đo bằng cách đặt cổng ngăn hoặc một phương tiện khác.
CHÚ THÍCH 1: Các điều kiện nói trên thường chỉ được dùng trong phép đo với tín hiệu xung.
CHÚ THÍCH 2: Trong những điều kiện như trên thì các phép đo kế tiếp nhau phải được cách quãng bằng những khoảng thời gian đủ để cho mức thanh áp do có vang trong không gian giảm tới giá trị không đáng kể.
5.6. Các điều kiện về trường tự do nửa không gian mô phỏng
Sử dụng các điều kiện về âm trong đó trường tự do mô phỏng tồn tại trong nửa không gian, các điều kiện đó có thể được thỏa mãn khi có mặt phẳng phản xạ tạo thành một mặt biên của môi trường trường tự do mô phỏng có kích thước đủ để không có phản xạ nào từ biên của nó tới được micrô đo trong thời gian đo.
CHÚ THÍCH 1: Các điều kiện nói trên thường chỉ được dùng trong phép đo với tín hiệu xung.
CHÚ THÍCH 2: Trong những điều kiện như trên thì các phép đo kế tiếp nhau phải được cách quãng bằng những khoảng thời gian đủ để cho mức thanh áp do độ vang trong không gian giảm tới giá trị không đáng kể.
- Tạp âm và tạp diện không mong muốn
Tạp âm và tạp điện không mong muốn phải được giữ ở mức thấp nhất có thể được nếu như sự có mặt của chúng có thể che lấp các tín hiệu có mức thấp.
Các dữ liệu liên quan đến các tín hiệu có mức cao hơn mức tạp nhưng không nhỏ hơn 10 dB trong băng tần đang xét, đều được loại bỏ.
- Định vị loa và micrô đo
7.1. Khoảng cách đo trong điều kiện trường tự do và trường tự do nửa không gian
7.1.1. Điều kiện chung
Các phép đo trong điều kiện trường tự do và trường tự do nửa không gian có thể được thực hiện ở trường xa của loa, để đạt được các kết quả nhất quán. Tuy nhiên, khoảng cách có thể sử dụng trong thực tế bị giới hạn vì những hạn chế của môi trường trong phòng đo và ảnh hưởng của tạp nền. Bởi vậy nên lấy khoảng cách đo là 0,5 m hoặc một số nguyên của mét và kết quả phải được quy về khoảng cách tiêu chuẩn là 1 m.
7.1.2. Loa có một bộ kích
Đối với kiểu loa này thì phải dùng khoảng cách đo là 1 m tính từ điểm làm chuẩn, trừ khi có những lý do chính đáng để đùng giá trị khác, trong mọi trường hợp khoảng cách đo phải được nêu ra.
7.1.3. Hệ thống có nhiều loa
Hệ thống loa trong đó hai hoặc nhiều loa tái tạo cùng một băng tần gây ra giao thoa âm thanh tại điểm đo do tác động lẫn nhau của các âm thanh phát ra bởi các loa đó. Tình trạng này tồn tại cho dù tất cả các loa đều làm việc trên toàn bộ băng tần đem thử hoặc là một vài loa làm việc trên các phần của băng tần đó (ví dụ như vùng giao nhau). Trong các trường hợp như vậy khoảng cách đo phải chọn sao cho giảm thiểu được sai số do hiện tượng này gây ra.
7.2. Định vị loa trong điều kiện trường khuếch tán
Vị trí và định hướng của loa so với các bức tường phải được quy định bằng sơ đồ kèm theo kết quả đo.
Cho phép bố trí để di chuyển đồng thời cả loa và micrô đo để đánh giá công suất do loa phát ra theo phương pháp mô tả trong 22.1.2.2. Hệ thống micrô và vị trí micrô gần nhất phải đáp ứng yêu cầu của ISO 3741.
7.3. Định vị loa và micrô trong điều kiện trường tự do mô phỏng
Khoảng cách đo phải được chọn theo 7.1 đối với điều kiện trường tự do.
Vị trí loa và micrô ở trong môi trường đo phải sao cho đạt được thời gian tối đa cho phép đo trước khi phản xạ không mong muốn đầu tiên tới micrô đo.
Nếu không gian đo là một phòng không vang thì phải chú ý các phản xạ từ các đầu hình nêm, sàn cho nhân viên và các giá đỡ của loa và micrô. Sai số do các nguồn này không được vượt quá 0,5 dB trên toàn dải tần của phép đo.
Phải nêu rõ khoảng cách đặt micrô, thời gian để thu được tín hiệu lớn nhất và thực hiện trong môi trường nào.
Cần thiết phải loại bỏ tất cả các đường ra của micrô kể từ lúc phản xạ đầu tiên đưa tới micrô. Do đó sai số cắt cụt được đưa vào hàm chuyển đổi của phép đo trừ khi đáp ứng của loa đối với tín hiệu thử nghiệm dạng xung là không đáng kể sau thời gian đó. Nếu có sai số cắt cụt thì giá trị của sai số này không được vượt quá 1 dB trong cả dải tần số của phép đo.
- Thiết bị đo
Phép đo trong điều kiện trường tự do hoặc trường tự do nửa không gian phải được thực hiện với micrô đo dạng thanh áp có thanh áp hiệu chuẩn đã biết. Để đo trong điều kiện trường khuếch tán thì micrô dạng thanh áp đem dùng phải có chỉ số tính hướng nhỏ hơn 2 dB. Cả hai yêu cầu trên đều phải đáp ứng đầy đủ đối với tất cả các tần số trong dải tần quan tâm.
Bộ tạo tín hiệu, bộ khuếch đại cung cấp tín hiệu cho loa và thiết bị đo trong bộ khuếch đại micrô phải có đáp tuyến biên độ đã biết trước và đáp tuyến này không thay đổi trong phạm vi ± 0,5 dB trong dải tần liên quan và có độ phi tuyến biên độ không đáng kể trong điều kiện thử nghiệm. Tất cả các dụng cụ đo phải là loại đo giá trị hiệu dụng, có hằng số thời gian đủ lớn để đảm bảo sai số không lớn hơn 1 dB.
CHÚ THÍCH: Cần đo đáp tuyến tần số bằng phương pháp tự động và vẽ ra các đường cong liên tục. Sai số do chọn tốc độ vẽ (theo cả hai trục biểu thị mức và tần số) của thiết bị ghi mức không được vượt quá 0,5 dB. Phải nêu rõ tốc độ vẽ đọc theo hai trục.
- Độ chính xác của phép đo âm
Phải nêu rõ dải tần mà sai số tổng không vượt quá ± 2 dB.
CHÚ THÍCH: Nguồn sai số có thể có trong cả thiết bị đo và môi trường đo phải được nhận biết và xác định số lượng cũng như phải quy định sự đóng góp của chúng. Thông tin này phải có trong báo cáo thử nghiệm.
- Lắp đặt loa
10.1. Lắp đặt và mắc tải âm thanh của các bộ kích
Tính năng của bộ kích được xác định bởi các tính chất của bản thân bộ kích đó và tải âm thanh của nó. Tải âm thanh phụ thuộc vào việc bố trí lắp đặt mà việc này phải được mô tả rõ ràng khi thể hiện kết quả.
Một trong ba kiểu lắp đặt sau đây được sử dụng:
- a) ván loa tiêu chuẩn, hộp loa đo tiêu chuẩn (kiểu A hoặc kiểu B), hoặc hộp loa quy định;
- b) để tự do trong không khí, không có ván loa hoặc hộp loa;
- c) để trong trường tự do nửa không gian ngang bằng với mặt phẳng phản xạ.
CHÚ THÍCH: Điều kiện lắp đặt a) gần với điều kiện trường tự do nửa không gian ở tần số giới hạn thấp hơn, giá trị này tuy thuộc vào khoảng cách đo được chọn. Các phép đo tiến hành ở tần số thấp hơn tần số giới hạn này chỉ có thể dùng cho mục đích so sánh.
10.2. Lắp đặt và mắc tải âm thanh của hệ thống loa
Hệ thống loa thường được đo không có ván loa bổ sung. Nếu nhà chế tạo quy định kiểu lắp đặt đặc biệt cho loa thì kiểu lắp đặt này phải được dùng cho phép đo và phương pháp lắp đặt đó phải được nêu cùng kết quả.
- Ván loa và hộp loa tiêu chuẩn dùng để đo
11.1. Ván loa tiêu chuẩn
Ván loa tiêu chuẩn phải có bề mặt phía trước phẳng để phản xạ được âm. Ván loa phải có kích thước theo Hình 2.
CHÚ THÍCH: Ván loa tiêu chuẩn phải làm bằng vật liệu có đủ độ dày để đảm bảo độ rung không đáng kể. Cạnh của phần tử xòe ra phải ngang bằng với bề mặt trước của ván loa. Điều này có thể đạt được bằng cách sử dụng cạnh vát như Hình 3 hoặc dùng một ván đệm mỏng và cứng, có hoặc không có cạnh vát như Hình 4.
11.2. Hộp loa tiêu chuẩn dùng để đo
11.2.1. Quy định chung
Một trong hai kiểu hộp loa tiêu chuẩn dùng để đo quy định trong 11.2.3 (kiểu A) và 11.2.4 (kiểu B) phải được sử dụng. Nhà chế tạo phải lựa chọn kiểu thử nghiệm và phải ghi rõ lựa chọn này.
11.2.2. Điều kiện
Hộp loa phải có bề mặt phẳng hoặc cong có đặc tính phản xạ được âm.
CHÚ THÍCH 1: Vật liệu phải có độ dày thích hợp sao cho có thể bỏ qua ảnh hưởng của rung khi đo. Nếu cần thiết, vật nối phải được sử dụng để gia cố giữa các bề mặt bao ngoài, tại tâm và xung quanh tâm để tránh rung động ván loa.
CHÚ THÍCH 2: Hộp phải kín gió.
CHÚ THÍCH 3: Cạnh của loa phải được đặt trên tấm phẳng giống như phần phía trước của ván loa.
CHÚ THÍCH 4: Vật liệu hấp thụ âm thanh thích hợp phải được sử dụng để loại bỏ sự xuất hiện sóng đứng khác trong hộp loa. Các móc quai hoặc mối nối có thể lắp đặt nếu ảnh hưởng của chúng lên phản xạ âm và độ rung không mong muốn là không đáng kể.
CHÚ THÍCH 5: Khi loa đặt vào trong hộp, cần phải chú ý để tránh rò rỉ không khí từ bên trong hộp loa.
11.2.3. Hộp loa tiêu chuẩn kiểu A dùng để đo
Hộp loa tiêu chuẩn kiểu A dùng để đo phải có kích thước như Hình 5.
CHÚ THÍCH 1: Đặc tính đường cong hiệu chỉnh đối với ảnh hưởng nhiễu xạ hộp loa tiêu chuẩn dùng để đo tại khoảng cách đo 1 m trên trục chuẩn tính từ trường tự do đến trường tự do nửa không gian được trình bày trong Phụ lục A.
CHÚ THÍCH 2: Tất cả bề mặt kiểu hộp này là mặt phẳng và các mối nối của các bề mặt được thực hiện tại các góc. Không cho phép thay đổi kích thước nào. Đặc tính nhiễu xạ có thể bị lặp lại do nguyên nhân này. Bởi vậy, kiểu A được sử dụng hữu ích khi phân tích, nghiên cứu hoặc so sánh đặc tính của loa một cách chi tiết.
11.2.4. Hộp loa tiêu chuẩn kiểu B dùng để đo
Hộp loa tiêu chuẩn kiểu B dùng để đo phải như thể hiện trên Hình 6.
CHÚ THÍCH 1: Đặc tính đường cong hiệu chỉnh đối với ảnh hưởng nhiễu xạ hộp loa tiêu chuẩn dùng để đo tại khoảng cách đo 1 m trên trục chuẩn từ trường tự do đến trường tự do nửa không gian được trình bày trong Phụ lục B.
CHÚ THÍCH 2: Nếu yêu cầu hộp loa tiêu chuẩn kiểu B dùng để đo lớn hơn hoặc nhỏ hơn, thì hộp loa phải thỏa mãn yêu cầu tỷ lệ như Phụ lục B, Hình B.2 và Bằng B.1. Trong trường hợp này báo cáo cần phải nêu ra các kích thước ngoài và thể tích thực của hộp loa.
CHÚ THÍCH 3: Sự thay đổi theo tỷ lệ là cho phép. Khuyến cáo rằng sử dụng hộp loa tiêu chuẩn dùng để đo như Hình 6 đối với các phép đo âm. Hộp tỷ lệ thích hợp được sử dụng đối với thử nghiệm chủ quan.
tcvn-6697-5-2009-thiet-bi-he-thong-am-thanh-phan-5-loa.pdf